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高温四探针电阻率测试系统,四探针电阻率测试仪(双电)

高温四探针电阻率测试系统,四探针电阻率测试仪(双电)

四端测试法是目前较***之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

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    北京 门头沟区 北京市门头沟区潭柘寺镇鲁家滩大街60号院
产品特性:四探针电阻是否进口:否产地:北京
加工定制:是类型:指针式电阻测量仪表品牌:百川
型号:BCD-310测量范围:10-8~2×108Ω-cmMΩ精度:≤0.3%
重量:约6kgNetkg尺 寸:约330mm*350mm*120mm

概述:采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室;是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示,温度补偿功能,自动量程,自动测量电阻,电阻率,电导率数据。恒流源输出;选配:PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器,薄膜按键操作简单,中文或英文两种语言界面选择,电位差计和电流计或数字电压表,量程为1mV?100mV,分辨率为0.1%,直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距,四探针应以等距离直线排列,探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R; +R,)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比,由表3中查出修正因子F,也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F,见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样,选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针,针尖与试样间压力为0.3 N?0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样,选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针,针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V; R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表,能指示阻值高达10°日的漏电阻,温度针0℃-40℃,小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果,甲醇、99.5%,干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针,针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差,硅片几何形状,表面粘污等会影响测试结果,R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.,见式(3).试剂优级纯,纯水,25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R,(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃,具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上,试样放置的时间应足够长,到达热平衡时,试样温度为23 ℃±1℃.接通电流,令其任一方向为正向,调节电流大小见表1测量范围电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□电  阻:1×10-5~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直    径:A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,   方测试台直接测试方式180mm×180mm,    长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm,    测量方位: 轴向、径向均可

4-1/2 位数字电压表:

    (1)量程: 20.00mV~2000mV

    (2)误差:±0.1%读数±2 字

数控恒流源

   (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100?A,1mA,10mA,100mA,1A

   (2)误差:±0.1%读数±2 字

所给出的某一合适值,测量并记录所得数据,所有测试数据至少应取三位有效数字。改变电流方向,测量、记录数据。关断电流,抢起探针装置,对仲裁测量,探针间距为1.59



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